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        SpecMetrix | PCB板涂層厚度測量應用案例分享

        來源:廣東東南科創科技有限公司   2026年04月13日 10:17  

        助力電子制造品質躍升PCB板涂層厚度測量案例


        在半導體與電子制造行業,涂層厚度雖微,卻是決定產品性能與可靠性的關鍵變量。特別是在PCB(印刷電路板)領域,涂層不僅起到保護電路、耐高溫和防腐蝕的作用,也影響后續焊接質量與使用壽命。

        近日,工業物理中國收到某電子行業客戶委托,使用旗下SpecMetrix® ROI增強光學干涉膜厚分析系統,對其生產的多款PCB板樣品進行了精密涂層厚度測量。測試取得了高精度、強重復性且與傳統切片法一致的結果,進一步驗證了該系統在電子材料測厚領域的強大實力。

         

        測試目的

        該客戶為國內電子元件制造商,在高頻通信、電力系統及工業控制等場景中均有PCB產品應用。客戶在日常質量管控中,原采用切片顯微法進行膜厚分析,但存在制樣繁瑣、破壞性強、效率低等問題。

        因此,此次他們正在尋找一種:

        ? 非接觸

        ? 非破壞

        ? 更高效率

        ? 精度可靠

        的替代方案,對其PCB板表面功能性涂層進行膜厚測量,以支持工藝優化和成品質控。

         

        測試方法與系統說明

        本次測試采用工業物理上海實驗室的 SpecMetrix® Enhanced 實驗室版系統,其搭載的 ROI 增強光學干涉測量技術,已納入 ASTM D8331 國際標準,可對透明、有色或著色基材上的涂層進行亞微米級非接觸式測量。

         

        測試參數:

        •  涂層折射率:1.55(標準預設)

        •  波長范圍:490–670 nm

        •  測量方式:區域掃描,每塊區域 100+ 測點平均

        •  測試樣品:客戶提供 2 塊 PCB 樣品,每塊選取上下兩區域分別測量

         

        測量結果與分析亮點:

        •  樣品一:上區域平均膜厚為 21.90μm,下區域為 21.09μm

        •  樣品二:上區域為 24.58μm,下區域為 21.70μm

         

        結果顯示:

        1. 數據與客戶切片法結果吻合度高,驗證系統準確性

        2. 重復性良好,區域差異在可接受范圍內

        3. 無破壞、快速出數、無需前處理,極大提升檢測效率

        4. ROI干涉技術對PCB等多孔、微結構材料表現出色

        此外,SpecMetrix® 還可用于其他電子及半導體領域,例如:

         

        •  UV/PI 絕緣涂層

        •  柔性電路板(FPC)表面處理

        •  光學薄膜、導熱膜等新材料

        •  電池隔膜、封裝膜及粘結層測厚



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