高低溫沖擊試驗箱，三箱冷熱沖擊試驗機

高低溫沖擊試驗箱，三箱冷熱沖擊試驗機簡介：

      高低溫沖擊試驗箱，三箱式冷熱沖擊試驗機主要用于電子電器零組件、自動化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學材料、塑料等行業，國防工業、航天、兵工業、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導體陶磁及高分子材料之物理牲變化,通過測試其材料對高、低溫的反復抵拉力及產品于熱脹冷縮產出的化學變化或物理傷害，可確認產品的質量,從精密的IC到重機械的組件，作為其產品改進的依據或參考。以便考核試品的適應性或對試品的行為作出改進、鑒定及出廠檢驗用。

高低溫沖擊試驗箱，三箱冷熱沖擊試驗機技術性能：

測試方法：GB/T 5170.2-1996 溫度試驗設備

高溫室

預溫度范圍：RT～+200℃

升溫時間：RT+10℃→+200℃ ≤40min

低溫室

預冷溫度范圍：RT~-70℃

降溫時間：RT → -70℃≤60min

試驗室（試樣區）

試驗方式：氣動風門切換

溫區沖擊試驗條件：高溫-常溫-低溫

溫度沖擊范圍：-55℃～ +80℃

溫度波動度：±0.5℃

溫度偏差：±2.0℃

溫度恢復時間：≤5min

恢復條件

試樣：塑料封裝集成電路（均布）傳感器位置：試樣的上風側

高溫曝露： RT~+150℃：≥30分鐘

環境溫度曝露：常溫

低溫曝露： RT~-55℃：≥30分鐘

試樣重量：4.5kg（如需要放置重的試樣，請提前告知）

制冷方式：風冷、水冷

高低溫沖擊試驗箱，三箱冷熱沖擊試驗機滿足標準：

1.GJB 150.5A-2009溫度沖擊試驗

2.GJB 360B-2009溫度沖擊試驗

3.GB/T 2424.13-2002/IEC 60068-2-33:1971電工電子產品環境試驗第2部分:試驗方法溫度變化試驗導則

4.GB/T 2423.22-2012/IEC 60068-2-14:2009溫度沖擊試驗

5.GB/T 2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007電工電子產品環境試驗第2部分：試驗方法 試驗A：低溫

6.GB/T 2423.2-2008/IEC60068-2-2：2007 電工電子產品環境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫

7.GB/T 10589-2008 低溫試驗箱技術條件

8.GB/T 11158-2008 高溫試驗箱技術條件